期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

双极型集成电路表面质量的监测技术和系统被引量：1

下载PDF

导出

摘要本文讨论了双极型集成电路表面质量的表征量,给出了这些表征量的测试方法,以及监测这些表征量测试系统的硬件和软件方框图,并列出了利用该系统所得到的测试结果.

作者张德胜顾瑛赵策洲

机构地区西安电子科技大学微电子所

出处《电子产品可靠性与环境试验》 1994年第6期53-59,共7页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关键词双极型集成电路集成电路电子产品质量监测

分类号 TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学] TN431 [电子电信—微电子学与固体电子学]

引文网络
相关文献

同被引文献3

1王林.双极型半导体集成电路的可靠性设计[J].电子产品可靠性与环境试验,1996,14(5):32-37. 被引量：1
2许斌.采用TEG技术的半导体集成电路可靠性评价方法[J].微电子学,2012,42(6):855-859. 被引量：4
3王林,赵宇军,邵卫平.军用双极型数字集成电路的可靠性保证[J].电子产品可靠性与环境试验,2002,20(6):29-31. 被引量：2

引证文献1

1袁昊煜,李珂,杜平川.双极型集成电路可靠性技术[J].电子技术与软件工程,2016(22):98-98.

1袁昊煜,李珂,杜平川.双极型集成电路可靠性技术[J].电子技术与软件工程,2016(22):98-98.
2周家萍.双极型集成电路的版图设计工艺[J].兴义民族师范学院学报,2012(6):109-112. 被引量：1
3鲁冬梅.双极型集成电路与恒流二极管的兼容制造[J].科技视界,2015(6):86-86.
4傅兴华,陈军宁,童勤义.高性能双极型集成电路晶体管[J].电子科学学刊,1993,15(6):631-642. 被引量：1
5罗俊,秦国林,邢宗锋,李志强.双极型集成电路可靠性技术[J].微电子学,2010,40(5):747-753. 被引量：8
6白涛.双极型集成电路的可靠性设计[J].集成电路通讯,2012,30(1):40-44.
7樊崇德,陆剑侠,张沈军,陶星,袁凯.高浓度离子注入砷隐埋层技术[J].微处理机,1996,17(2):22-24.
8席奎德.在双极型集成电路生产中高阻外延的问题[J].半导体技术,1990,6(1):22-25.
9许勇.电视调谐器中的新器件CX-20155[J].电子技术（上海）,1990,17(5):19-22.
10CMOS型时基集成电路[J].实用影音技术,1995,0(1):75-75.

电子产品可靠性与环境试验

1994年第6期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...

;

使用帮助返回顶部