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磁盘表面精密测试技术
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摘要
磁盘表面粗糙度测试技术与工业生产密切相关,在技术进步国家深受重视。本文在深入考察分析现代表面测量方法的基础上,对PZT调制光外差干涉法展开详尽分析研究,采用锯齿波驱动方案改造测量系统,可对磁盘表面粗糙度进行精确测定。
作者
王菊香
机构地区
华中理工大学
出处
《电子测量技术》
北大核心
1994年第1期18-23,共6页
Electronic Measurement Technology
关键词
测量
磁盘
表面粗糙度
分类号
TP333.3 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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电子测量技术
1994年 第1期
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