期刊文献+

磁盘表面精密测试技术

下载PDF
导出
摘要 磁盘表面粗糙度测试技术与工业生产密切相关,在技术进步国家深受重视。本文在深入考察分析现代表面测量方法的基础上,对PZT调制光外差干涉法展开详尽分析研究,采用锯齿波驱动方案改造测量系统,可对磁盘表面粗糙度进行精确测定。
作者 王菊香
机构地区 华中理工大学
出处 《电子测量技术》 北大核心 1994年第1期18-23,共6页 Electronic Measurement Technology
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部