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测试微分平滑电路的一种高精度方法

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摘要 本文提出了一种测试微分平滑电路的新方法。由于应用了单片微机强有力的软件功能,大大地提高了测试的精度,并降低了对硬件的要求。
作者 卢旭初
机构地区 军械研究所
出处 《电子测量技术》 北大核心 1994年第3期1-3,共3页 Electronic Measurement Technology
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