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测试微分平滑电路的一种高精度方法
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摘要
本文提出了一种测试微分平滑电路的新方法。由于应用了单片微机强有力的软件功能,大大地提高了测试的精度,并降低了对硬件的要求。
作者
卢旭初
机构地区
军械研究所
出处
《电子测量技术》
北大核心
1994年第3期1-3,共3页
Electronic Measurement Technology
关键词
微分平滑电路
测试
微分放大器
分类号
TN722.591 [电子电信—电路与系统]
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电子测量技术
1994年 第3期
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