摘要
利用薄膜边缘的强电场,可以制成场致发射电子源,它已成为真空微电子学的一个重要组成部分。这种类型的边缘场发射体阵列,杂散电容低,很适合于超高速器件,用它作成的开关元件,开关速度可达皮秒量级,在数字电路中亦有很好的应用前景。本文采用自对准的制作工艺,简单易行。在具体的实验过程中,边缘发射体阵列有两种,一种为锯齿状,一种为梳状,薄膜沉积采用了离子束溅射、射频磁控溅射两种方法,用晶体管特性图示仪和HP41408在真空测试台中进行电参数测量,得到了二极管特性曲线,并对测试结果进行了分析和讨论。
出处
《电子器件》
CAS
1994年第3期77-77,共1页
Chinese Journal of Electron Devices