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中心设计的一种新方法
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摘要
本文简要介绍了电路中心值设计的有关问题,并提出了一种新的设计方法。该方法利用了参数抽样,只需进行一次MonteCarlo分析,从而大大减少电路分析次数,提高设计速度,降低设计成本。
作者
杨林耀
吴大正
机构地区
西安电子科技大学检测与仪器系
出处
《电子科技杂志》
1994年第4期15-18,共4页
关键词
中心设计
成品率
参数抽样
电路设计
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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万会兵,杨林耀,贾新章,吴大正.
IC优化设计的参数抽样效益折衷算法[J]
.电子学报,1993,21(8):61-66.
电子科技杂志
1994年 第4期
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