摘要
利用[100]方向的高分辨晶格像研究了Bi系氧化物调制结构中的特征缺陷,及其对相变和材料超导性能的影响。
The characteristic structural defects in the modulated structures of Bi-based oxide superconductors and their effects on phase transition and superconductive properties are studied by HRTEM observation along [100]axis.
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1994年第4期253-257,共5页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基金
国家超导研究开发中心
国家自然科学基金