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利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构

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摘要利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构林清英，张燕征（冶金部钢铁研究总院，北京１０００８１）在研究新工艺和开发新材料的过程中，往往需要了解亚微米范围的成分和结构，而目前在表面分析方法中，扫描俄歇电子显微技术（ＳＡＭ）主要用于分析２ｎｍ深度内的元素。本文根...

作者林清英张燕征

机构地区冶金部钢铁研究总院

出处《电子显微学报》 CAS CSCD 1994年第6期457-457,共1页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关键词俄歇电子扫描电子显微术碳电子结构

分类号 O613.71 [理学—无机化学]

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电子显微学报

1994年第6期

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