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利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构
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摘要
利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构林清英,张燕征(冶金部钢铁研究总院,北京100081)在研究新工艺和开发新材料的过程中,往往需要了解亚微米范围的成分和结构,而目前在表面分析方法中,扫描俄歇电子显微技术(SAM)主要用于分析2nm深度内的元素。本文根...
作者
林清英
张燕征
机构地区
冶金部钢铁研究总院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1994年第6期457-457,共1页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
关键词
俄歇电子
扫描电子显微术
碳
电子结构
分类号
O613.71 [理学—无机化学]
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电子显微学报
1994年 第6期
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