EDAX9100能谱仪探头Be窗和Si死层厚度的测量

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摘要ＥＤＡＸ９１００能谱仪探头Ｂｅ窗和Ｓｉ死层厚度的测量吉关华，郭世亮（电子部第五研究所，广州５１０６１０）在无标样定量计算相对纯元素强度，以及定量分析本底函数过程中，都要使用探测器的效率，而效率直接受Ｂｅ窗、Ｓｉ死层和Ａｕ层厚度值的影响。在定量计算中运...

作者吉关华郭世亮

出处《电子显微学报》 CAS CSCD 1994年第6期511-511,共1页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关键词能谱谱仪探头铍窗硅死层厚度测量

1徐翠华,王思广,周强,张庆,任天山,耿秀生.蒙特卡罗方法调整探测器死层厚度和冷指尺寸的研究[J].中国辐射卫生,2003,12(4):203-204. 被引量：13
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电子显微学报

1994年第6期

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