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中高压铝电解电容器阳极引出片的腐蚀及其模型的探讨 被引量:8

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摘要 回顾了文献上对阳极引出片腐蚀原因的分析,提出了Cl-引起的铝的局部小孔腐蚀存在一个诱导期,诱导期长短与多余电解液的量等有关。控制多余电解液的量后,400V-150μF产品已通过95℃,1000h耐久性试验,提出了强电场作用下铝的小孔腐蚀模型。
出处 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1994年第1期37-40,共4页 Electronic Components And Materials
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同被引文献35

引证文献8

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