全反射X-射线荧光光谱的原理和应用被引量：16

Principles and Applications of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry

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摘要本文综述全反射X-射线荧光光谱分析的进展、原理、仪器和应用。参考文献67篇。 The advances, principles, Instruments and applications of total reflection X-ray fluorescence spectrometry are reviewed with 67 references.

作者陈远盘

机构地区中国有色金属工业总公司矿产地质研究院

出处《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1994年第4期406-414,共9页 Chinese Journal of Analytical Chemistry

关键词全反射 X射线荧光光谱 Total reflecton X-ray fluorescence spectrometry, Review.

分类号 O657.34 [理学—分析化学]

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