摘要
用连续波电光检测法直接测量宽接触半导体激光器及激光器列阵的电场分布，分析器件的丝状发光现象，并初步解释了产生的原因．
This poper introduces a new nondedructive method ── Continuous Wave Electro-Optic Probing (CWEOP) used fur detecting the electric field distribution of broad concoct semiconductor LD and LD array. The phenomenon of filaments is analysed and the cause is explained.
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1994年第10期1022-1025,共4页
Acta Optica Sinica
基金
国家科委863高科技及集成光电子学国家重点实验室资助
关键词
半导体激光器
电场分布
丝状发光
broad concoct LD, LD array, electric field distribution.
