透射电子显微镜面临着重大变革
出处
《国际学术动态》
1994年第4期52-53,共2页
International Academic Developments
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3杨德清,陈尔纲.场发射电子枪亮度测定的一种新方法[J].微细加工技术,1991(1):14-19. 被引量：3
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4杨德清,陈尔纲.实用场发射电子枪虚源半径的测量[J].电子显微学报,1996,15(1):67-74.
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6严红,沈一骑.SEM工作距离和加速电压对图像分辨率的影响[J].实验技术与管理,2011,28(9):44-45. 被引量：10
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