摘要
CMOS集成电路和静态电源电流测试是一项有关产品质量和可靠性改善、设计验证和失效分析的技术。它已被少数公司应用多年,目前作为一项工业手段正受到更广泛的承认。本文由CMOS电路的历史开始介绍了I_(DDQ)测试的起源。再讲述如何用I_(DDQ)测试检测缺陷和故障以提高产品质量。然后,讨论工具和方法、包括测试图形生成软件、硬件仪器、阀值设定、IC设计指南和缺陷诊断。文章后面有许多参考书目。对某一专题感兴趣的读者提供了进一步的帮助。
出处
《国外电子测量技术》
1994年第1期14-22,32,共10页
Foreign Electronic Measurement Technology
