摘要
从八十年代中期起,ASIC对减小电子设备的尺寸,降低价格比其它元件,包括微控制器或微处理器,有更大的作用。在此期间,ASIC的复杂定时电路,数据速率和门电路数,插针数的年增长率也超出了微处理器的年增长率。 早期具有通常测试速度的ASIC只作为简单的设备使用,而现在更多的供货者和用户要求按现有的时钟和数据速率进行快速测试。 完成ASIC试验常常是在上一代的LSI ATE,ASIC检验试验系统。
出处
《国外电子测量技术》
1994年第2期20-20,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
