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平板局部平面度检定的现状与展望
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摘要
综述了各国平权局部平面度检定方法、成就与问题，指出该领域的检定发展方向。这对全面评价平板表面质量有指导意义。
作者
张泰昌
机构地区
北京市计量科学研究所
出处
《航空计测技术》
1994年第2期16-19,共4页
Aviation Metrology & Measurement Technology
关键词
局部平面度
技术指标
检定
分类号
TG83 [金属学及工艺—公差测量技术]
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航空计测技术
1994年 第2期
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