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SiC晶须形貌质量检测标准 被引量:1

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摘要 本文首次提出碳化硅晶须的形貌质量检测标准,该标准包括晶须的长度、直径、长径比、以及晶须的表面光洁率、晶须直晶率、晶须中颗粒物含量几个方面的检测,并已在1993年2月,被国家“863”高技术结构材料专家组认定,做为我国SiC晶须产品形貌质量的检测标准。
作者 徐桦 郭梦熊
出处 《化工新型材料》 CAS CSCD 北大核心 1994年第3期23-27,共5页 New Chemical Materials
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献4

  • 1Chang Xin,Chin J Met Sci Technol,1987年,3卷,289页
  • 2郭常霖,物理学报,1982年,31卷,1511页
  • 3郭常霖,物理学报,1982年,31卷,1526页
  • 4郭常霖,物理学报,1965年,21卷,1089页

共引文献1

同被引文献1

引证文献1

二级引证文献2

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