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屏蔽罩中场强的测量

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摘要 屏蔽室测量(30~200MHz) 1 引言 本文描述了如何有选择地放置辐射吸收材料(RAM),这种材料能够大大减小无衬屏蔽室中产生的电磁谐振的Q值。在屏蔽室中完成的EMC(电磁兼容性)性能试验结果与在其他室中进行的同样检测通常相差20dB或更多。这些结果由室谐振、天线位置和室内的EUT(被检测设备)决定。已对这些谐振做了详细研究,提到的衰减方法使发射测量同在开场区所做的、在30~200MHz频域内的一致性达到5dB以内。
出处 《空间电子技术》 1994年第94期10-16,36,共8页 Space Electronic Technology
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