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氧化铝枪瓷筒高压击穿原因探讨
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摘要
以本厂生产的大功率速调管为研究对象,用金相和电子显微技术对枪瓷筒高压击穿件和正常件进行对比分析,讨论了产生高压击穿的原因。
作者
陶元明
机构地区
电子部
出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
1994年第1期44-46,共3页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
关键词
枪瓷筒
高压击穿
氧化铝
击穿
分类号
TN104.2 [电子电信—物理电子学]
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理化检验(物理分册)
1994年 第1期
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