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氧化铝枪瓷筒高压击穿原因探讨

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摘要 以本厂生产的大功率速调管为研究对象,用金相和电子显微技术对枪瓷筒高压击穿件和正常件进行对比分析,讨论了产生高压击穿的原因。
作者 陶元明
机构地区 电子部
出处 《理化检验(物理分册)》 CAS 1994年第1期44-46,共3页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
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