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布里奇曼法生长的Li_2B_4O_7晶体的X射线形貌观察 被引量:2

X-ray Topographic Study on the Defects in Bridgman-grown Li_2B_4O_7 Crystal
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摘要 本文通过X射线衍射形貌术观察了布里奇曼法(BR)生长和加速坩埚旋转的布里奇曼法(ACRT-BR)生长的Li_2B_4O_7单晶中的缺陷。晶体中的缺陷以亚晶界和位错为主。同时结合晶体生长和晶体结构对缺陷的成因及消除方法进行了讨论。 Defects in the Bridgman and accelerated crucible rotation technique-Bridgman(ACRT-BR)grown Li_2B_4O_7 single crystals have been observed by X-ray topography.Subboundaries and dislocations are the main defects in crystal.The origin of and the way to avoid them have been discussed in view of the crystal growth and structure.
出处 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 1994年第1期67-71,共5页 Journal of Synthetic Crystals
基金 南京大学固体微结构物理实验室课题
关键词 Li2B4O7 布里奇曼法 晶体生长 X-ray topography:Li_2B_4O_7 crystal subboundary dislocation
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献5

  • 1何大珍.四硼酸锂单晶的弹性、压电及介电性能[J].压电与声光,1989,11(3):49-54. 被引量:5
  • 2范世Ji,J Crystal Growth,1990年,99卷,811页
  • 3匿名著者,压电与声光,1989年,11卷,3期,45页
  • 4孟宪林,人工晶体学报,1988年,17卷,2期,136页
  • 5闵乃本,晶体生长的物理基础,1982年

共引文献1

同被引文献31

引证文献2

二级引证文献7

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