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正交试验法攻克ZCK二极管质量关
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摘要
853l厂生产的ZCK系列硅高速开关二极管是采用瓷片作基片,用环氧树脂封装。但容易炸裂纹,质量不合格。曾专门停产三个月来检查各生产环节,但未能发现瓷片裂纹出现的原因.在进行高低温循环后再做潮热试验时,40只ZCK产品有27只反向不合格,另外还有7只断丝,合格率仅12.5%.后又针对解决瓷片出现的裂纹进行了200多次试验仍未成功。
作者
李永镇
毕秀珍
机构地区
邵阳高等专科学校
[
出处
《邵阳高专学报》
1994年第3期211-212,共2页
关键词
正交试验法
ZCK
二极管
质量控制
分类号
TN313.605 [电子电信—物理电子学]
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0
二级引证文献
0
1
黄建新,李永镇,毕秀珍.
ZCK二极管工艺条件的优化设计[J]
.数理统计与管理,1996,15(3):13-15.
被引量:1
邵阳高专学报
1994年 第3期
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