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ASIC对测试技术的挑战被引量：1

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摘要本文介绍和分析了当今ASIC发展引起的各种测试难题及其解决办法，包括可测性设计，测试码生成及ASIC测试系统。强调了ASIC的CAT和CAD相结合的发展方针。

作者徐中佑

机构地区电子工业部东北微电子研究所

出处《微处理机》 1994年第1期10-12,共3页 Microprocessors

关键词 ASIC 集成电路测试

分类号 TP206.1 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

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微处理机

1994年第1期

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