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设计混合讯号ASIC时考虑可测性
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摘要
如果你不能够充分测试你设计的混合讯号的ASIC(专用集成电路),除了将会造成在现场穷于应付系统的失效之外,还要为进货检验花费高额费用,产品的交货期也会推迟,而且还要频繁地对产品进行工程支持。为了避免这些令人头疼的情况出现。在ASIC内部需设置预防性设计以便使器件易于测试。
作者
Donald Bartlett
NCR Corp
徐执模
出处
《微电子测试》
1994年第2期44-47,共4页
关键词
专用集成电路
混合讯号
设计
可测性
集成电路
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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微电子测试
1994年 第2期
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