期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
特征分析技术的新进展
下载PDF
职称材料
导出
摘要
特征分析方法是数字系统测试中的一个研究课题,并且日益显示其重要意义。本文综述近年来国际上在这方面研究的新进展,其中包括特征分析技术在理论上的不断完善,特征分析中真伪混淆概率计算方面的进展,以及对近年来出现形式多样特征分析器本质的揭示等。
作者
刘泽坚
机构地区
上海交通大学
出处
《微电子测试》
1994年第2期15-22,共8页
关键词
集成电路
测试
特征分析
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
丁明.
浅谈ICA多媒体信号特征分析技术[J]
.新课程研究(职业教育),2010(3):137-138.
2
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J]
.电子世界,2008(3):4-4.
3
张开根.
雷达数字电路的故障检测方法[J]
.现代电子,1997(3):24-29.
被引量:1
4
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J]
.电子与电脑,2008(3):102-103.
5
吉时利联手研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J]
.世界电子元器件,2008(3):102-102.
6
吉时利联合Stratophere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J]
.电子测试,2008,19(4):90-90.
7
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J]
.国外电子测量技术,2008,27(2):84-84.
8
Yuegang Zhao,Chadwin D Young,Rino Choi,Byoung Hun Lee.
高k栅介质中电荷俘获行为的脉冲特征分析[J]
.电子设计应用,2010,0(1):76-78.
被引量:1
9
吉时利与Stratosphere Solutions合作研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J]
.信息技术与标准化,2008(3):60-60.
10
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J]
.电子测量技术,2008,31(2):195-195.
微电子测试
1994年 第2期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部