克服噪声的障碍进行可编程器件的测试

当今CMOS PLD(互补氧化物可编程逻辑器件)及FPGAs(现场可编程门阵列)具有很高的时钟和快速的上升时间,使它们的编程及测试更为困难。因此用于测试这些器件前几代产品的设备如今常常不能胜任测试工作。过去的设备常使用扁平电缆将编程器/测试仪与一个机械手上的被测器件板相连接。这样的结构会引起一系列问题。