分析VLSI自动测试设备高频测试性能的准则

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摘要更高速CMOS VLSI,特别是RISC和CISC的发展,要求用来测试这些器件的ATE增加高频测试能力。本文分析测试仪管脚电子电路特性和DUT到测试仪的接口,以及在这些领域对ATE提出的新要求。

作者 Phil Burlison LTX.Corp. 周敬猷

出处《微电子测试》 1994年第3期34-39,共6页

关键词 VLSI 集成电路测试设备高频测试

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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