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TGEN:灵活的定时产生器体系结构

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摘要 本文描述一种称为TGEN的器件,它是为下一代超大规模集成电路自动测试仪使用设计的集成电路。它使用一种新的定时体系结构,旨在与中央产生的周期定时信息脱钩。
出处 《微电子测试》 1994年第4期40-44,共5页

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