CMOS存贮单元的开路故障可测性设计

在CMOS电路中，静态寄存器和触发器的某些电路分支的开路故障导致触发器变为动态，这些开路故障是不可检测的。事实上，大部分时序存贮器中的不可测开路故障都属于这一类。针对这一情况，本文提出了一种可使该类故障变为可测的设计方法，并给出了两个开路故障完全可测的寄存器电路。