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一种智能功率集成电路隔离技术

An Isolation Technology for Smart Power IC's
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摘要 本文介绍一种智能功率集成电路(高边CMOS模拟开关)的隔离技术。对除开关管VDMOS管以外的器件采用自隔离技术,VDMOS管不是自隔离的。衬底电势的变化易引起电路闭锁,采用浮阱技术来防止电路闭锁。 n isolation technology for smart power IC's (high-side CMOS analog switch) is presentedin the paper.Selfisolation is adopted for all the devices in the study except VDMOS transistors. Floating well has been used to prevent thecircuit from latching-up,which can be easily caused by variations in subetrate potentiais.
作者 黄平 尹贤文
机构地区 电子工业部第
出处 《微电子学》 CAS CSCD 1994年第2期12-16,共5页 Microelectronics
关键词 模拟开关 隔离 闭锁 功率集成电路 smart power IC ,High-side analog switch, Self isolation .Flogting Well.Latch-up
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参考文献1

  • 1陈星弼功率MOSFET与高压集成电路[M].

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