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BF_2注入和快速退火的亚微米双层多晶硅工艺

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摘要 详细介绍了一种采用BF_2注入和快速退火制作基区、f_T可达30GHz的亚微米双层多晶硅工艺及其器件特性。描述了晶体管的基本参数,以及其截止频率f_T和集电极与发射极间击穿电压BV_(ceo)之间的对应关系;与基区注入剂量、外延基区注入剂量、下集电区注入剂量和外延层厚度的函数关系。
作者 叶兴耀
出处 《微电子学》 CAS CSCD 1994年第4期52-59,共8页 Microelectronics

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