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BF_2注入和快速退火的亚微米双层多晶硅工艺
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摘要
详细介绍了一种采用BF_2注入和快速退火制作基区、f_T可达30GHz的亚微米双层多晶硅工艺及其器件特性。描述了晶体管的基本参数,以及其截止频率f_T和集电极与发射极间击穿电压BV_(ceo)之间的对应关系;与基区注入剂量、外延基区注入剂量、下集电区注入剂量和外延层厚度的函数关系。
作者
叶兴耀
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
1994年第4期52-59,共8页
Microelectronics
关键词
BF2注入
退火
亚微米
多晶硅
分类号
TN325.205 [电子电信—物理电子学]
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0
1
赵清太,王忠烈.
MeV Si离子注入对BF_2注入Si样品特性的影响[J]
.Journal of Semiconductors,1996,17(9):706-712.
微电子学
1994年 第4期
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