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减小SoC系统测试功耗的方法
Ways of Reducing Power Consumption of SoC System Test
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摘要
系统功耗主要取决于系统电源电压、负载电容及节点电平的翻转概率。前两种方法对减少SOC测试功耗的作用非常有限,而通过改变扫描寄存器的结构,即采用扫描阵列结构可以极大的降低SOC测试功耗。
作者
吴刚
王立志
机构地区
空军工程大学
出处
《世界电子元器件》
2005年第2期64-66,共3页
Global Electronics China
关键词
功耗
SOC测试
SOC系统
电平
阵列结构
电源电压
电容
寄存器
扫描
翻转
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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