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减小SoC系统测试功耗的方法

Ways of Reducing Power Consumption of SoC System Test
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摘要 系统功耗主要取决于系统电源电压、负载电容及节点电平的翻转概率。前两种方法对减少SOC测试功耗的作用非常有限,而通过改变扫描寄存器的结构,即采用扫描阵列结构可以极大的降低SOC测试功耗。
作者 吴刚 王立志
机构地区 空军工程大学
出处 《世界电子元器件》 2005年第2期64-66,共3页 Global Electronics China
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