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X射线三晶衍射及其应用 被引量:3

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摘要 X射线三晶衍射由于同时采用了单色器和分析器,因而能区分样品中由完美晶体部分对X射线的动力学衍射和由缺陷部分引起的运动学散射,还可把晶体中晶格常数的变化和晶格取向缺陷区别开,并可测定倒易点附近X射线散射强度的二维分布图。近来,X射线三晶衍射技术广泛应用于研究晶体的表面和界面粗糙度、表面损伤、晶体内的微缺陷以及精确确定外延膜的结构参数等。此外,还简要地介绍了X射线三晶衍射的技术、原理和应用。
作者 李超荣
出处 《物理》 CAS 北大核心 1994年第1期46-50,共5页 Physics
  • 相关文献

参考文献4

  • 1李超荣,物理学报,1993年,42卷,1479页
  • 2Mai Z H,J Appl Phys,1992年,72卷,3474页
  • 3Li C R,J Appl Phys,1991年,70卷,4172页
  • 4Mai Z H,Phys Rev B,1990年,41卷,9930页

同被引文献27

引证文献3

二级引证文献20

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