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红外焦平面技术的重要进展──单片式SiGe红外焦平面阵列的物理基础和关键技术

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摘要 由SiGe合金与Si构成的应变层异质结构、量子阱是80年代中期发展起来的一种新型半导体材料。本文着重讨论了单片式SiGe红外焦平面阵列的物理基础、高质量SiGe材料的制备以及低温SiGe器件研制中的几个关键技术。
出处 《物理》 CAS 北大核心 1994年第3期167-171,共5页 Physics
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参考文献3

  • 1郑茳,Solid-State Electron,1992年,35卷,1697页
  • 2何春藩,红外与毫米波学报,1992年,11卷,102页
  • 3郑茳,大自然探索,1991年,10卷,33页

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