期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
OPENSTAR—测试系统新概念
下载PDF
职称材料
导出
摘要
当今IC业的发展十分迅猛,因此对于ATE(Automatic Test Equipment)在低成本性、可再配置性、可升级性以及灵活性方面的要求也越来越高。本文将对OPENSTAR这么一个全新的测试系统概念进行介绍。
作者
孔争辉
机构地区
爱德万测试(苏州)有限公司
出处
《集成电路应用》
2005年第3期16-17,共2页
Application of IC
关键词
测试系统
OPENSTAR
IC业
Soc芯片测试平台
硬件环境
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
吉利久.
发展硬IP设计 夯实IC业基础[J]
.电子产品世界,2000,7(1):50-51.
被引量:2
2
长三角IC业发展论坛在沪召开[J]
.半导体技术,2004,29(6).
3
Joshua Israelsohn.
高速ADC:防止前端冲突[J]
.电子设计技术 EDN CHINA,2004,11(12):66-76.
4
中国IC设计业全球第3[J]
.新材料产业,2012(11):83-83.
5
迎九.
IC业在拐点生存[J]
.电子产品世界,2008,15(8):74-74.
6
郑忆.
用可再配置 FPGA 实现 DSP 功能[J]
.河南科学,1997,15(3):323-325.
7
成商.
华为成功部署西班牙电信全球首张40G传送网[J]
.邮电设计技术,2008(11):64-64.
8
本土IC业喜人,IC China 2013将于11月上海开幕[J]
.电子产品世界,2013,20(4):28-28.
9
IC业带动半导体清洗设备市场增长[J]
.电子工业专用设备,2005,34(1):43-43.
10
孙泉.
解读摩尔定律[J]
.集成电路应用,2004,21(8):3-3.
被引量:8
集成电路应用
2005年 第3期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部