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OPENSTAR—测试系统新概念

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摘要 当今IC业的发展十分迅猛,因此对于ATE(Automatic Test Equipment)在低成本性、可再配置性、可升级性以及灵活性方面的要求也越来越高。本文将对OPENSTAR这么一个全新的测试系统概念进行介绍。
作者 孔争辉
出处 《集成电路应用》 2005年第3期16-17,共2页 Application of IC
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