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适用于对数-正态杂波的双参数CFAR方法(续)

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摘要 4 设计准则 按照上述分析的观点,我们现在建议一种设计方法,它依据ATD概念来选择有关参数和门限系数。我们假定的目标是对给定的检测和虚警要求,参考窗口的长度N要保持尽可能小,而且审查得尽可能深以便提高抗非均匀性的性能。 审查阶段要求附加的自由度,也就是说,当干扰是非均匀性的主要来源时,上述单边审查可能是比较好的;而在其它情况下,对称审查也许比较好。
出处 《现代电子》 1994年第3期10-13,共4页
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