摘要
2005年2月美国国家仪器有限公司(简称NI)宣布主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation Test Forum，即DVTF 2005)。延承2004年第一届DVTF的成功之势，本届论坛将于2005年4月15日在上海国际会议中心举行，NI诚邀行业内外相关领域的多家优秀企业，如英特尔(Intel)、科梁科技(AEETEK)等共同参与，为广大测试测量行业的工程技术人员提供一个绝佳的学习与交流平台。
出处
《国外电子测量技术》
2005年第3期55-55,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
