摘要
压电响应力显微术是在原子力显微镜的基础上,利用材料自身逆压电效应来探测样 品表面形变的一类技术总称.现已作为铁电材料研究的重要手段,应用于纳米尺度畴结构的三 维成像、畴结构的动态研究、畴结构控制和微区压电、铁电、漏电等物理性能表征等领域.本 文就近年来利用压电响应力显微术对铁电材料的研究方面作一综述.
Piezoresponse force microscopy, developed on the base of atomic force microscopy, is a technology of detecting the deflection of the sample surface under alternating electric field according to the converse piezoelectric effect. It has been used to research on nanoscale three-dimensional image of ferroelectric domains, dynamical behavior of domains, control of domain and characterization of local physical properties. This review is involved with the latest progress in piezoresponse force microscopy on ferroelectric materials.
出处
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第2期257-266,共10页
Journal of Inorganic Materials
基金
国家重点基础研究发展规划项目(2002CB613307)
关键词
压电响应力显微术
纳米尺度
铁电畴
微区性能
piezoresponse force microscopy
nanoscale
ferroelectric domain
local property