用于测量薄膜强度和挺度的方法

美国国家标准和工艺研究所(NIST)报道，他们开发出一个廉价的测量薄膜强度和挺度的方法。测量仅需2s钟并适用于高产量测试，它可在一个快速传送带中测试成百上千的样品。