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扫描电镜电压衬度像和束感生电流像技术及其在失效分析中的应用研究

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摘要 本文简要介绍了扫描电镜电压衬度像和束感生电流像(EBIC)技术的原理、发展、现状以及在半导体器件失效分析中的一些应用研究和典型案例。
作者 何涛 雷祖圣
出处 《宇航材料工艺》 CAS CSCD 北大核心 1994年第5期39-42,共4页 Aerospace Materials & Technology
  • 相关文献

参考文献2

  • 1徐晓华,李萍.硅化钯-P型硅肖特基势垒二极管的电子束感生电流法观测[J]电子显微学报,1988(04).
  • 2唐圣明,林绥娟.扫描电镜剖面EBIC方法[J]电子显微学报,1988(03).

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