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一种可编程的通用存储器仿真测试系统 被引量:8

Programmable Universal Memorizer Emulation Test System
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摘要 针对带微处理器数字电路的测试,提出了一种基于功能测试的可编程的通用存储器仿真测试系统,并对其硬件和软件系统的组成原理和功能作了详细的介绍,成功地实现了对电路板的功能检测和故障定位。 For test of digital circuit with microprocessor, presents a functional test based programmable universal memorizer emulation test system,and a detailed introduction of its hardware and software system is presented, function testing and fault locations on circuits-board with microprocessor are successfully realized.
出处 《微计算机信息》 北大核心 2005年第4期84-85,共2页 Control & Automation
关键词 存储器仿真 故障诊断 微处理器 数字电路 Memorizer Emulation Fault Diagnosis Microprocessor Digital Circuit
  • 相关文献

参考文献1

  • 1杨士元.数字系统的故障诊断与可靠性设计[M].,1999..

共引文献6

同被引文献26

引证文献8

二级引证文献54

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