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气体纯度的现场分析
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摘要
尽管许多IC制造厂家通常不对工艺用气体纯度进行现场分析,但未来器件生产的要求势必改变这种状况。
作者
Chuck Murray
胡永清
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
1989年第1期69-74,85,共7页
Microelectronics
关键词
气体纯度
分析
半导体
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
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微电子学
1989年 第1期
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