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可凝性气体对低温光学元件表面污染的测试设备

Measuring equipment for studying cryodeposite of condensable vapour on optical surfaces
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摘要 详细介绍了某些可凝性气体对低温光学元件表面污染测试设备的基本原理、基本结构1994年1月6日收到,第一作者的邮政编码200083及使用方法,对其主要性能进行了实验测定,并给出了系统误差分析。该设备结构简单、功能齐全、性能可靠、使用方便、测试波段从近红外直至远红外,精度优于3%,与国外同类仪器相当。可用于各类可凝性气冷凝霜层的测试研究,为进一步发展空间技术提供了有效的研究设备。 This paper has introduced the basic principle,structure and operation instruction of the measuring equipment for studying cryodeposite on optical surfaces.The performence has been tested by the experiment. System errors have been analysed.This device is simple.in structure,complete in function,reliable enough in perforlnence and convenient in use. The measuring wavelength is from near infrared to far infrared and the precision is better than 3%,which close to the same equipment from external.It can be used for measureing all kinds of condensable vapour cryodeposite。It will be an effective device for further developing space technology.
出处 《真空与低温》 1994年第2期63-69,共7页 Vacuum and Cryogenics
关键词 可凝性气体 低温 光学元件 污染 Condensable vapour,cryodeposite,measure.
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