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倒装芯片化学镀镍/金凸点技术 被引量:2

Investigation of Electroless Nickel/Gold bump Technology
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摘要 本文对倒装芯片化学镀镍/金凸点技术进行了阐述。文中主要讨论了化学镀镍/金凸点的表面形貌、均匀性及其在铝电极上的附着性能等问题。 This paper discuss the surface morphology of electroless nickel/gold, the uniformity and the adhesion to aluminum alloy electrodes are dealt with in this paper.
出处 《电子与封装》 2005年第4期9-12,15,共5页 Electronics & Packaging
关键词 化学镀镍金 凸点 均匀性 附着性能 Electroless nickel/gold Bumps Uniformity Adhesion
  • 相关文献

参考文献1

  • 1George Riley.Electroless Nickel-gold Flip Chip.flipchips[].Tutorial.

同被引文献29

引证文献2

二级引证文献15

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