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深亚微米集成电路设计中串扰分析与解决方法 被引量：3

Crosstalk Analysis and Solution in Deep-Submicron Integrated Circuit Design
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摘要 本文介绍了深亚微米集成电路设计中串扰的成因及其对信号完整性的影响,论述了串扰分析和设计解决的一般方法,对于实际设计具有一定的理论指导意义和应用参考价值。本文最后指出了我们工作的进一步研究方向。 This paper presents the causes of crosstalk in deep-submicron integrated circuit design and its impact on signal integrity, and discusses the analysis and solution of this problem. At the end, we point out our the future research direction.
作者 马剑武 陈书明 孙永节
机构地区 国防科技大学计算机学院
出处 《计算机工程与科学》 CSCD 2005年第4期102-104,共3页 Computer Engineering & Science
关键词 深亚微米集成电路 电路设计 信号完整性 串扰分析 crosstalk signal integrity deep-submicron coupled capacitance noise
分类号 TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献4

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同被引文献14

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引证文献3

二级引证文献2

计算机工程与科学
2005年 第4期

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