期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

16位微处理器L80C186-10测试技术研究

下载PDF

导出

摘要 L80C186-10是一款高度集成的16位微处理器,本文主要对L80C186-10内部各主要功能块的测试做了详细论述。

作者苏彬张磊刘珊珊

机构地区东北微电子研究所

出处《电子设计应用》 2005年第5期114-114,116-117,共3页 Electronic Design & Application World

关键词 16位微处理器测试技术高度集成功能块

分类号 TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构] TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

引文网络
相关文献

1张凡忠.嵌入式软件测试技术研究[J].A&S（安防工程商）,2015,0(3):18-20.
2邢翠芳,杜晶,赵海冰.软件自动化测试技术研究[J].电脑知识与技术,2013,9(4X):2923-2925. 被引量：3
3王娜娜.面向安全风险的云计算测试技术研究[J].电脑开发与应用,2014,27(3):33-36. 被引量：2
4黄家伟,曹谢东.面向对象测试技术研究[J].信息技术,2010,34(8):98-99. 被引量：1
5郭滔.面向对象软件测试技术研究[J].科技信息,2011(3):83-83. 被引量：7
6张克农,郑崇勋.数字电路功能块级随机可测性[J].微电子测试,1989(4):9-13.
7谭伟,钟宏伟,孙明峰.LC8952型收发器的测试技术研究[J].微处理机,2002,23(1):13-15.
8陈洪兰,邵勉力.ISDN的基本功能块[J].电信交换,1991(1):48-48.
9吴强,张侹,王华,文毅.WebGIS关键性能指标测试技术研究[J].测绘科学与工程,2016,36(4):76-78.
10陈连波.WEB信息系统测试技术研究[J].电脑知识与技术,2009,5(2):1004-1005.

电子设计应用

2005年第5期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...

;

使用帮助返回顶部