GlobalScan-I激光扫描显微镜系统用于设计边缘和失效定位
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第5期56-57,61,共3页
Semiconductor Technology
-
1夏瑞华,吴泽慧.高速PCB设计中消除电源噪声的方法[J].电子制作,2007(10):53-54.
-
2科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统[J].电子测试（新电子）,2005(1):97-97.
-
3新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题[J].电子与电脑,2004(12):31-31.
-
4张涛,卢皑,李刚,徐英.高性能智能流量积算仪[J].自动化仪表,2001,22(1):17-19. 被引量：4
-
5杨云龙,严佩敏,陈艳.多光子激励激光扫描显微镜[J].激光与光电子学进展,2000,37(6):29-33. 被引量：3
-
6孙英会,张波,于梅芳,廖清君,张燕,文鑫,姜偑璐,胡晓宁,戴宁.Crosstalk of HgCdTe LWIR n-on-p diode arrays[J].Journal of Semiconductors,2009,30(9):49-52. 被引量：2
-
7张景和,袁雅珍,阮锦.激光扫描显微镜中的扫描系统[J].光学精密工程,1995,3(2):62-65. 被引量：4
-
8吴秀丽,王历.反射型激光扫描显微镜[J].光机情报,1990(6):24-27.
-
9李银祥,谈正雄.激光扫描显微镜[J].电子显微学报,1994,13(6):516-516. 被引量：1
-
10大出孝博,蒋庆全.高速激光扫描显微镜[J].光机情报,1989(3):4-8.
