期刊文献+

安捷伦发布Medalist i5000在线测试平台

下载PDF
导出
摘要 在NEPCON China(上海)举行期间,安捷伦科技发布了一款在线测试(ICT)系统Medalist i5000。它通过最新的软件和tester—per—pin架构,可为印制电路板组件(PCBA)制造商实现最快的赢利速度(Time to money)。Medalist i5000系统的模块化、可升级的结构特点大大地丰富了单板测试功能,具有ICT业界最高的操作弹性。并且其所有的测试程序都是可移植的、稳定的、
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期77-77,共1页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部