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氯化氢中微量有机和无机杂质的色谱分析
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3
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摘要
由于在半导体材料生产中所使用的氯化氢要求纯度高,这就决定了对其中的杂质(特别是含氧物,如O2、CO、CO2等)含量作直接高灵敏的控制和检测的必要性。
作者
В.И.Маиорнв
А.Д.Молоgык
王先承
出处
《低温与特气》
CAS
1983年第3期57-59,共3页
Low Temperature and Specialty Gases
关键词
氯化氢
色谱分析
无机杂质
有机
微量
材料生产
半导体
高灵敏
CO2
分类号
O657.7 [理学—分析化学]
TQ124.42 [化学工程—无机化工]
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