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原子力显微镜观测DNA分子的表面沉积与扩展 被引量:1

Atomic force microscopic observation of deposition and extension of DNA molecules
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摘要 原子力显微镜具有原子级分辨率,能够对生物样品进行观察.用原子力显微镜观察了DNA分子在Si、云母片及修饰过的云母片表面的沉积与扩展,对3种情况作了比较,用超声振荡方法可以有效地切断DNA分子链. Atomic force microscope(AFM) is a powerful tool for characterizing nanostructural samples with an atomic resolution.The deposition and extending of double-strand DNA on three kinds of surfaces using the flowing of liquid are observed by AFM. The molecule of DNA can be disconnected by supersonic machine.
出处 《西北师范大学学报(自然科学版)》 CAS 2005年第3期49-51,共3页 Journal of Northwest Normal University(Natural Science)
基金 国家自然科学基金资助项目(200475044) 教育部优秀青年教师资助计划 西北师范大学科技创新工程资助项目(NWNU-KJCXGC-01)
关键词 DNA 沉积 扩展 原子力显微镜 DNA deposition extension atomic force microscopy
  • 相关文献

参考文献7

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共引文献1

同被引文献4

引证文献1

二级引证文献1

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