4 韩国KAIST首次澄清液晶结构缺陷原因

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摘要韩国技术研究机构近日首次研究得出液晶显示器表面上出现黑点，降低清晰度的液晶缺陷原因，进而提出了能够提高LCD清晰度的可行性理论依据。韩国科学技术院(KAIST)金万源教授研究小组与美国UC大学、中国重庆大学和德国乌尔姆大学(Universitat Ulm)共同研究的结果表明，出现液晶缺陷的原因取决于“微通道”的结构。

出处《光电技术》 2005年第1期46-46,共1页

关键词液晶显示器结构缺陷清晰度韩国科学技术院微通道

分类号 TN873.93 [电子电信—信息与通信工程]

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