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基于多MCU自动测试诊断系统的设计

Design of Automatic Test System Based on Multi-MCU

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摘要本文详细介绍了基于多P89C668单片机的组合逻辑电路自动测试诊断系统设计,包括硬件结构和软件设计。该自动测试诊断系统采用USB接口实现计算机与诊断平台的通信,其移动式结构便于现场测试,且设备成本低、操作简单。

作者刘玉珠柴新禹

机构地区上海交通大学生命科学技术学院

出处《电子产品世界》 2005年第05B期69-72,共4页 Electronic Engineering & Product World

关键词测试诊断系统自动 MCU 组合逻辑电路 USB接口系统设计详细介绍软件设计硬件结构现场测试单片机计算机移动式成本低

分类号 TP277 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

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2005年第05B期

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